<AI기반 Wafer 불량 조기 탐지 시스템 구축> Wafer 제조 과정 중 발생된 불량 Wafer를 공정이 끝나기 전 조기 예측하여 비용의 발생을 최소화시킬 수 있도록 시스템을 개발하는 프로젝트였습니다. Python 및 Tensorflow를 활용하여 모델 개발에 참여하였으며, 실제 고객사에서 현재까지도 사용하고 있는 시스템입니다.

2018년 10월 - 2019년 02월

(주)SK하이닉스